Det årlige møde i den tekniske komité for temperaturmåling blev afholdt i Chongqing den 15. til 16. oktober 2014.
og Xu Jun, formanden for Panran, var inviteret til at deltage.
Mødet blev afholdt af direktøren for den tekniske komité for temperaturmåling, vicepræsident for National Institute of Metrology. Mødet færdiggjorde en række kalibreringsspecifikationer såsom temperaturvisningsinstrument, standardboks til temperatur og fugtighed og kontinuerligt termoelement. De diskuterede også det nye projekt og arbejdsresuméet for 2014 samt arbejdsplanen for 2015. Xu Jun, formanden for Panran, deltog i færdiggørelsen.
Opslagstidspunkt: 21. september 2022
